陶瓷材料純度的分析方法，常見的有:

(1)ICP ( Inductively Coupled Plasma，感應耦合電漿)：這是最常見的方法。

測定方式如下 :

1.把陶瓷粉溶在酸性或鹼性水溶液中。

2.利用霧化器將水溶液噴入高溫的電漿爐中，將陶瓷粉的元素從基態激發到激發態。

3.收集從激發態回復到基態所放射的光，以偵測儀分析強度並與標準品進行比對，轉換成元素濃

度。

ICP是屬於破壞性的測試方法（陶瓷粉本體會被破壞），但是可以完整測試出材料的成份。

ICP無法進行C/H/O/N與鹵素的成份分析。

(2)XRF ( X光螢光分析)：測試方法較ICP快速。

測定方式如下 :

1.以X光打在陶瓷粉上。

2.利用X光將陶瓷粉的元素從基態激發到激發態。

3.收集從激發態回復到基態所放射的光，以偵測儀分析強度並與標準品進行比對，轉換成元素濃

度。

XRF是屬於非破壞性的測試方法（不會破壞陶瓷本體），但是只能測出材料局部的表面成份（約幾um的深度）。

以上兩者最被採用的測試方法規範是IEC 62321。